2015-11-06_MCXX_BiasT_S21_Testing.doc    2015-11-06  黎煥欣

這是一個比較舊的測試記錄了, 因為一些資料公開的問題, 現在可以拿出來了

 Original File: R20140616_MCXX_BiasT_S21_Testing.doc  黎煥欣  2014-06-16

 主旨: MCXX 迷你接頭與 BiasT S21 (功率穿透係數) 測試

 

有關 MCXX 接頭與 BiasT 在高頻下的行為一直沒有真正的細量, 因為起初花了一些時間才決定用那一種接頭 (MCXX) cable (1.13mm UFL ), 而這 cable MCXX 接頭並沒有設計就是在一起的接頭. 所以我們只能用原來是接 RG316 線的 MCXX , 將它修改成與 UFL 線接在一起. 另外 Bobo BiasT 內部有一些接線與零件. 對高頻信號穿越它的衰減量之前也未有正式的量測 (因為 MCXX 接不起來), 這次客服了 MCXX 接頭的問題, 我們總算得到了初步的結果.

 


我們先做了兩個 SMA <-> MCXX 90deg , 之後再做了一個兩個 MCXX 180deg PCB 銲座對接, 並以此來做基準, ADV 3361C TG 做頻率響應測試, 外觀如圖:

 

再接頻譜分析儀的 TG out SA input:


得到的結果如下圖:

 

900MHz 頻段, bypass 的參考值是 -9.70dBm, 這裡量到 -10.57dBm, 衰減約 -0.87dB, 考慮到經過那麼多接點. 這算是不錯的結果.

 

BiasT 用的 MCXX PCB 銲件頭有一個是 90deg , 我們也做了 90deg 頭的對接頭測試:


結果如下圖:

 

180deg 的多了 0.1dB, 差不多一樣. 它們在大於 1.6GHz 才有一些衰減的起伏. 在我們使用的 700~1000MHz 頻段表現都不錯.

 


最後是 BiasT 的測試了, 用以上相同的條件, BiasT 當做 DUT,

 

 


結果如圖:

 

900MHz 頻段, 量到 -12.2dBm, 衰減量約 -2.5dB, 雖然較直接接差了約 1.5dB, 但目前已夠使用. 上圖在 1.2GHz 與大於1.7GHz Notch 與衰減量變大的情況, 推測與腔體共振與內部接線有關, 但不在我們的工作頻率. 暫時先不用管這個現像. 目前這個 BiasT 已經可以先試驗了. 這次測試只是先期測試, 將來架在平移台上後, 整體拿到實驗室後, 會再精密的量測一次

  

黎煥欣   2014-06-16

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